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泰勒霍普森surtronic duo大量程粗糙度儀

Surtronic DUO—可分離式設計——提供較高的表面粗糙度測量的可靠性和±5%的精度。

Surtronic DUO是一種便攜式、車間用工具，用于快速測量表面粗糙度。這種電池驅動的裝置可以作為小型入門級儀器，也可以作為具有多功能檢測機構生產(chǎn)工具。它測量生產(chǎn)過程控制檢測常用的兩個參數(shù)Ra和Rz。

英國泰勒公司 SURTRONIC DUO 粗糙度儀為英國泰勒公司推出的新款便攜式表面粗糙度儀。SURTRONIC DUO 粗糙度儀通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量，可以在一米外遙控操作；其設計可滿足不同的技術與工作環(huán)境要求，通用貨號訂貨編號：112-3115。大量程粗糙度儀（Ra）： 大值40μm（1600μin）（Rz、Rv、Rp、Rt）：大值199μm（7800μin）

SURTRONIC DUO 粗糙度儀為英國泰勒公司推出的新款便攜式表面粗糙度儀。DUO通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量，其設計可滿足不同的技術與工作環(huán)境要求。

SURTRONIC DUO 粗糙度儀儀器特點：

快速測量在儀器底端接觸工件瞬間，即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可

攜帶方便DUO可應用于車間、實驗室的測量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。

經(jīng)外接口 操作者可在距離被測工件1m處操作測量。

校準方便DUO具有自身校準標準，可預設標準值，通過LCD顯示出來。

測針保護不用時，設“park”位置可全面保護測針。

人體工程學設計

SURTRONIC DUO 粗糙度儀技術指標：

Ra(算術平均偏差，以前稱為CLA或AA)
Rz(平均峰谷高度)
Rv(采樣長度內(nèi)輪廓線以下的大高度)
Rp(采樣長度內(nèi)輪廓線以上的大高度)
Rt(剖面大峰谷高度)
Rz1max(任何采樣長度內(nèi)的大峰到谷)
偏度-關于平均線的輪廓對稱度的測量
Rq(輪廓線與平均線的偏差值的均方根均方根(rms))
Rku(峰度-表面輪廓銳度的測量)

技術參數(shù)：